SYST-2000-461882M/6014
SYST-2000-461882M/6014測試方法
為了檢驗 里氏硬度計 的穩(wěn)定性和準確性,我們對同一工件,在不同加工狀態(tài)重復(fù)測試進行比較,結(jié)果令人滿意。對于檢測密度要求100-200點的工件,使用里式硬度計檢測,由于測值穩(wěn)定,檢測點降至15-30點,一人只需一小時即可打完,大大減輕了勞動強度。 此機還解決了我廠外協(xié)件的現(xiàn)場監(jiān)督問題,既保證了質(zhì)量又節(jié)約了人力、財力。
l Rockwell Allen-Bradley: Reliance瑞恩、SLC500/1747/1746、MicroLogix/1761/1763/1762/1766/1764、CompactLogix/1769/1768、Logix5000/1756/1789/1794/1760/1788、PLC-5/1771/1785等。
l Schneider Modicon(施耐德莫迪康):Quantum 140系列處理器、控制卡、電源模塊等。
l ABB:工業(yè)機器人備件DSQC系列、Bailey INFI 90等。
l Siemens(西門子):Siemens MOORE, Siemens Simatic C1,Siemens數(shù)控系統(tǒng)等。
l Motorola(摩托羅拉):MVME 162、MVME 167、MVME1772、MVME177等系列。
l XYCOM:I/O 、VME板和處理器等。
l GE FANUC(GE發(fā)那科):模塊、卡件、驅(qū)動器等各類備件。
National Instruments - CFP-CB-1, 778618-01
National Instruments - CFP-CB-3, 778618-03
National Instruments - cFP-TC-120
National Instruments 777141-01
National Instruments PCI-232 186492B-01
National Instruments 198098A-02L
National Instruments 182330E-01
National Instruments 182419B-01
National Instruments 182419B-05
National Instruments 182419B-05
National Instruments 182634G-01 SCXI-1163R
National Instruments 182762-01 182762B-01 182762C-01