是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。
具有強大功能的X-射線,軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
測量更小、更快、更薄MicronX比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內(nèi)的一整套專利系統(tǒng)完成的。
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超精度美國博曼(BOWMAN)線路板X-RAY膜厚測試儀
產(chǎn)品屬性
詳細信息 是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。 具有強大功能的X-射線,軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。 測量更小、更快、更薄MicronX比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內(nèi)的一整套專利系統(tǒng)完成的。 相關(guān)產(chǎn)品 共0條 相關(guān)評論
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